引線框架是電子封裝中非常重要的組件，它們用于提供管芯和基板之間的電氣互連。這些引線框架使用焊膏材料粘合，而作為可靠性測試的一部分，測試焊點處引線的結(jié)合強度至關(guān)重要。在開發(fā)新的引線框架和最終組件時，拉伸測試可以揭示使用金、銅等各種材料的好處。

然而，在引線框架拉伸測試中，存在著一些挑戰(zhàn)，例如精確夾持、封裝或元件對齊、PCB夾持以及數(shù)據(jù)采集和分析。本文科準(zhǔn)測控的小編將探討引線框架拉伸測試的重要性以及如何克服測試中的常見挑戰(zhàn)，以確保電子組件的可靠性和穩(wěn)定性。

引線框架拉伸測試的重要性

引線框架拉伸測試是評估引線框架可靠性的重要方法之一。在拉伸測試中，引線框架會受到一定的拉力，以模擬實際使用條件下可能遇到的力。測試人員可以通過對引線框架在拉力下的表現(xiàn)進行評估，了解其在長期使用中的可靠性和穩(wěn)定性。

通過引線框架拉伸測試，測試人員可以檢測焊點處引線的結(jié)合強度、引線的疲勞壽命、引線的材料強度等指標(biāo)。這些數(shù)據(jù)可以提供給設(shè)計師，以幫助改進引線框架的設(shè)計和材料選擇，從而提高整個電子設(shè)備的可靠性和性能。

一、測試辦法

引線框架的拉伸測試是電子封裝行業(yè)中至關(guān)重要的一項質(zhì)量控制測試。這項測試可以揭示焊點處引線的結(jié)合強度，有助于了解哪些引線框架或組件具有最高的可靠性。為了保證測試的精確性和可重復(fù)性，需要使用一些特殊的設(shè)備和工具。

微型氣動夾具和拉線鉤可以將引線框架固定在精確位置以進行拉力測試，而載物臺則可用于準(zhǔn)確安裝和定位印刷電路板和微型組件。

二、測試流程

引線框架的拉伸測試通常包括以下流程：

1、根據(jù)測試要求選擇合適的夾具和載物臺，并將引線框架精確固定在測試夾具上。

2、在測試過程中，需要精確控制測試速度和加載模式。一般來說，測試速度應(yīng)該是一個穩(wěn)定的恒定值，并且加載模式可以是恒定載荷或者是恒定應(yīng)變。

3、使用測試軟件記錄測試過程中的實時數(shù)據(jù)，如加載力和位移等。在測試過程中，需要及時關(guān)注數(shù)據(jù)的變化，以確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

4、在測試完成后，使用測試軟件繪制力與位移曲線，以確定引線框架從焊點上折斷所需的最大載荷。同時，還可以使用軟件分析測試數(shù)據(jù)，計算應(yīng)力與應(yīng)變等參數(shù)。

5、根據(jù)測試結(jié)果，評估引線框架的質(zhì)量和可靠性，并做出相應(yīng)的調(diào)整和改進，以提高產(chǎn)品的性能和可靠性。

6、需要注意的是，在進行引線框架的拉伸測試時，需要遵循嚴(yán)格的測試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。

三、相關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn)

在引線框架的拉伸測試中，有許多相關(guān)的測試標(biāo)準(zhǔn)可供參考和遵循。以下是一些常用的測試標(biāo)準(zhǔn)：

1、JESD22-B104D：這是電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化組織（JEDEC）發(fā)布的一項測試標(biāo)準(zhǔn)，用于評估半導(dǎo)體器件中的引線/焊點可靠性。

2、IPC/JEDEC-9704：這是國際電子組裝技術(shù)協(xié)會（IPC）和JEDEC聯(lián)合發(fā)布的一項測試標(biāo)準(zhǔn)，用于評估表面安裝技術(shù)中的引線/焊點可靠性。

3、MIL-STD-883E：這是美國國防部發(fā)布的一項測試標(biāo)準(zhǔn)，用于評估半導(dǎo)體器件和電子組件的可靠性。其中包括對引線/焊點的拉伸測試。

4、ASTM F1269-03：這是美國材料與試驗協(xié)會（ASTM）發(fā)布的一項測試標(biāo)準(zhǔn)，用于評估微型元件的拉伸強度和斷裂性能。其中包括對引線/焊點的拉伸測試。

以上就是引線框架拉伸測試內(nèi)容的介紹了，希望可以給您帶來幫助，如果您還想了解更多關(guān)于引線框架拉伸測試夾具的選擇、測試項目、試驗原理和注意事項等問題，歡迎您關(guān)注我們，科準(zhǔn)測控技術(shù)團隊為您免費解答！